په دې وروستیو کلونو کې، د براډ بانډ صنعت لپاره د ملي پالیسیو په ملاتړ سره، د ADSS فایبر آپټیک کیبل صنعت په چټکۍ سره وده کړې، کوم چې د ډیری ستونزو سره مخ دی.سربیره پردې، کورني فایبر آپټیک کیبل جوړونکي به د ډیرو سختو ننګونو سره مخ شي.
نن ورځ، د GL ټیکنالوژۍ فایبر آپټیک کیبل جوړونکی تاسو ته د ازموینې لپاره پنځه میتودونه درکويد ADSS فایبر آپټیک کیبلناکامۍ:
1. کله چې د فالټ پوائنټ مقاومت د انفینیت سره مساوي وي، د ټیټ ولتاژ نبض میتود په اندازه کولو سره د خلاص سرکټ غلطی موندل اسانه دي.په عمومي توګه خبرې کول، خالص خلاص سرکټ نیمګړتیاوې عام ندي.معمولا د خلاص سرکټ نیمګړتیاوې په نسبي ډول د ځمکې یا مرحلې څخه تر مرحلې لوړ مقاومت نیمګړتیاوې دي ، او په نسبي ډول د ځمکې یا مرحلې څخه تر مرحلې ټیټې د مقاومت نیمګړتیاوې همغږي دي.
2. کله چې د فالټ نقطې مقاومت له صفر سره مساوي وي، د ټیټ ولټاژ نبض میتود سره د شارټ سرکټ نیمګړتیا اندازه کولو سره د شارټ سرکټ نیمګړتیا موندل اسانه دي ، مګر دا ډول نیمګړتیا په ریښتیني کار کې په ندرت سره مخ کیږي. .
3. کله چې د فالټ نقطې مقاومت له صفر څخه ډیر او له 100 کیلوهیم څخه کم وي، د ټیټ ولتاژ نبض میتود په اندازه کولو سره د ټیټ مقاومت غلطی موندل اسانه دي.
4. د فلش اوور غلطی د مستقیم فلش میتود په واسطه اندازه کیدی شي.دا نیمګړتیا عموما د نښلونکي دننه شتون لري.د غلطۍ نقطه مقاومت له 100 کیلوهیم څخه ډیر دی، مګر ارزښت خورا ډیر بدلیږي، او هره اندازه ناڅرګنده ده.
5. د لوړ مقاومت نیمګړتیاوې د فلش فلش میتود لخوا اندازه کیدی شي، او د غلطۍ په نقطه کې مقاومت له 100 کیلو مترو څخه ډیر وي او ارزښت یې ټاکل کیږي.عموما، کله چې د ازموینې جریان د 15 mA څخه ډیر وي، د ازموینې څپې تکراري دي او کولی شي تکرار شي، او یو څپې یو اخراج لري، درې انعکاس او د نبض اندازه په تدریجي ډول کمیږي، اندازه شوی فاصله د غلطۍ نقطې څخه کیبل ته فاصله ده. د ازموینې پایکه نه نو د غلطۍ نقطې څخه د کیبل مخالف پای ته فاصله ازموینه وکړئ.
د آپټیکل کیبل فالټ ازموینې تخنیکي کچې ته وده ورکولو لپاره ، د مختلف غلطیو ملکیتونو لپاره باید مختلف میتودونه غوره شي ، او نوي ټیکنالوژي او تجهیزات باید په دوامداره توګه معرفي شي.په ورته وخت کې، نوي تجهیزات باید د تجربې لپاره وپلټل شي او نوي دندې باید رامینځته شي.د مثال په توګه ، د نظری کیبلونو ته د آډیو سیګنالونو لیږلو او د خطا نقطه کې د سیګنالونو ترلاسه کولو اوسنۍ ازموینې ټیکنالوژي ، او د غلطو نقطو دقیق موندلو لپاره د T16/910 کیبل فالټ ټیسټرونو په کارولو سره د لوړ ذہین کیبل فالټ فلش ټیسټرونو SDC لړۍ کارول. .دا وسیلې کولی شي د اندازه کولو تېروتنه په څو لسګونو سانتي مترو کې کنټرول کړي ، په مستقیم ډول د پروسس لپاره د خطا نقطه ومومي ، او د غلطۍ کشف کولو موثریت ته وده ورکړي.