בשנים האחרונות, בתמיכה של מדיניות לאומית לתעשיית הפס הרחב, התפתחה במהירות תעשיית הכבלים האופטיים של ADSS, אשר לוותה בבעיות רבות.בנוסף, יצרני כבלי סיבים אופטיים מקומיים יתמודדו עם אתגרים חמורים יותר.
כיום, יצרן כבלי סיבים אופטיים GL Technology אומר לך חמש שיטות לבדיקהכבל סיב אופטי ADSSכשלים:
1. כאשר ההתנגדות של נקודת השגיאה שווה לאינסוף, קל למצוא את תקלת המעגל הפתוח על ידי מדידה בשיטת הפולס במתח נמוך.באופן כללי, תקלות במעגל פתוח טהורות אינן שכיחות.בדרך כלל תקלות במעגל פתוח הן תקלות התנגדות גבוהה יחסית להארקה או שלב לפאזה, ותקלות התנגדות גבוהה יחסית לקרקע או שלב לפאזה נמוכה קיום דו-קיום של תקלות התנגדות.
2. כאשר ההתנגדות של נקודת התקלה שווה לאפס, קל למצוא את תקלת הקצר על ידי מדידת תקלת הקצר בשיטת הפולסים במתח נמוך, אך תקלה מסוג זה נתקלת רק לעתים נדירות בעבודה בפועל. .
3. כאשר ההתנגדות של נקודת התקלה גדולה מאפס ופחות מ-100 קילוהם, קל למצוא את התקלה בעלת ההתנגדות הנמוכה על ידי מדידה בשיטת הפולסים במתח נמוך.
4. ניתן למדוד את תקלת ההבזק בשיטת הבזק ישיר.תקלה זו קיימת בדרך כלל בתוך המחבר.ההתנגדות של נקודת השבר גדולה מ-100 קילו אוהם, אך הערך משתנה מאוד, וכל מדידה אינה ודאית.
5. ניתן למדוד תקלות בעלות התנגדות גבוהה בשיטת הבזק, וההתנגדות בנקודת התקלה גדולה מ-100 קילוהם והערך נקבע.בדרך כלל, כאשר זרם הבדיקה גדול מ-15 mA, צורות הגל הבדיקה חוזרות על עצמן ויכולות לחפוף, ולצורת גל יש פליטה אחת, שלוש השתקפויות ומשרעת הדופק יורדת בהדרגה, המרחק הנמדד הוא המרחק מנקודת השבר לכבל סוף מבחן;אחרת בדוק את המרחק מנקודת התקלה לקצה הנגדי של הכבל.
כדי לשפר את הרמה הטכנית של בדיקת תקלות בכבלים אופטיים, יש לאמץ שיטות שונות עבור מאפייני תקלה שונים, ולהציג באופן רציף טכנולוגיות וציוד חדשים.במקביל, יש לחקור ציוד חדש לניסיון ולפתח פונקציות חדשות.לדוגמה, טכנולוגיית הבדיקה הנוכחית של שליחת אותות שמע לכבלים אופטיים וקבלת אותות בנקודת התקלה, והשימוש בסדרת SDC של בודקי הבזק תקלות בכבלים בעלי אינטליגנציה גבוהה באמצעות בודקי תקלות בכבלים T16/910 לאיתור מדויק של נקודות התקלה. .מכשירים אלו יכולים לשלוט בטעות המדידה תוך כמה עשרות סנטימטרים, למצוא ישירות את נקודת התקלה לעיבוד ולשפר את היעילות של זיהוי התקלות.