ბოლო წლებში ფართოზოლოვანი ინდუსტრიის ეროვნული პოლიტიკის მხარდაჭერით, ADSS ოპტიკურ-ბოჭკოვანი კაბელების ინდუსტრია სწრაფად განვითარდა, რასაც თან ახლდა მრავალი პრობლემა.გარდა ამისა, ოპტიკურ-ბოჭკოვანი კაბელების შიდა მწარმოებლები უფრო მძიმე გამოწვევების წინაშე აღმოჩნდებიან.
დღეს GL Technology ოპტიკურ-ბოჭკოვანი კაბელის მწარმოებელი გეტყვით ტესტირების ხუთ მეთოდსADSS ოპტიკურ-ბოჭკოვანი კაბელიწარუმატებლობა:
1. როცა ხარვეზის წერტილის წინაღობა უსასრულობის ტოლია, მარტივია ღია წრედის ხარვეზის პოვნა დაბალი ძაბვის პულსის მეთოდით გაზომვით.ზოგადად, ღია მიკროსქემის ხარვეზები არ არის გავრცელებული.ჩვეულებრივ, ღია მიკროსქემის ხარვეზები არის შედარებით დამიწების ან ფაზა-ფაზა მაღალი წინააღმდეგობის ხარვეზები, და შედარებით დამიწება ან ფაზა-ფაზა დაბალი წინააღმდეგობის ხარვეზების თანაარსებობა.
2. როდესაც ხარვეზის წერტილის წინააღმდეგობა ნულის ტოლია, მოკლე შერთვის ხარვეზის პოვნა ადვილია მოკლე შერთვის ხარვეზის გაზომვით დაბალი ძაბვის პულსის მეთოდით, მაგრამ ასეთი გაუმართაობა იშვიათად გვხვდება რეალურ სამუშაოებში. .
3. როდესაც ხარვეზის წერტილის წინაღობა არის ნულზე მეტი და 100 კილოჰმზე ნაკლები, დაბალი ძაბვის პულსის მეთოდით გაზომვით ადვილია დაბალი წინააღმდეგობის ხარვეზის პოვნა.
4. Flashover ხარვეზის გაზომვა შესაძლებელია პირდაპირი ფლეშის მეთოდით.ეს გაუმართაობა ჩვეულებრივ არსებობს კონექტორის შიგნით.ხარვეზის წერტილის წინააღმდეგობა 100 კილოჰმზე მეტია, მაგრამ მნიშვნელობა მნიშვნელოვნად იცვლება და თითოეული გაზომვა გაურკვეველია.
5. მაღალი წინააღმდეგობის ხარვეზების გაზომვა შესაძლებელია ფლეშ-ფლაშ მეთოდით, ხოლო შეფერხების წერტილში წინააღმდეგობა არის 100 კილოჰმზე მეტი და სიდიდე განისაზღვრება.ზოგადად, როდესაც ტესტის დენი აღემატება 15 mA-ს, ტესტის ტალღების ფორმები მეორდება და შეიძლება გადაფარონ, ხოლო ტალღის ფორმას აქვს ერთი ემისია, სამი ანარეკლი და პულსის ამპლიტუდა თანდათან მცირდება, გაზომილი მანძილი არის მანძილი ხარვეზის წერტილიდან კაბელამდე. ტესტის დასასრული;წინააღმდეგ შემთხვევაში შეამოწმეთ მანძილი დეფექტის წერტილიდან კაბელის მოპირდაპირე ბოლომდე.
ოპტიკური კაბელის დეფექტის ტესტირების ტექნიკური დონის გასაუმჯობესებლად, სხვადასხვა მეთოდი უნდა იქნას მიღებული სხვადასხვა ხარვეზის თვისებებისთვის და მუდმივად უნდა დაინერგოს ახალი ტექნოლოგიები და აღჭურვილობა.ამავდროულად, ახალი აღჭურვილობა უნდა გამოიკვლიოს გამოცდილებისთვის და ახალი ფუნქციების განვითარება.მაგალითად, ოპტიკურ კაბელებზე აუდიო სიგნალების გაგზავნისა და გაუმართაობის წერტილში სიგნალების მიღების მიმდინარე ტესტირების ტექნოლოგია და SDC სერიის მაღალი ინტელექტუალური კაბელის გაუმართაობის ფლეშ ტესტერების გამოყენება T16/910 საკაბელო დეფექტის ტესტერების გამოყენებით, რათა ზუსტად აღმოაჩინოს ხარვეზის წერტილები. .ამ მოწყობილობებს შეუძლიათ გააკონტროლონ გაზომვის შეცდომა რამდენიმე ათეულ სანტიმეტრში, უშუალოდ იპოვონ ხარვეზის წერტილი დამუშავებისთვის და გააუმჯობესონ ხარვეზის გამოვლენის ეფექტურობა.